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400-7075-800簡要描述:電子元器件沙塵防塵試驗設(shè)備的應(yīng)用背景:自然界粉塵(沙塵、風(fēng)塵、灰塵等)對產(chǎn)品和材料的破壞,每年造成難以估計的經(jīng)濟損失。所造成的損害主要包括腐蝕、褪色、變形、強度下降、膨脹、發(fā)霉等,特別是電器產(chǎn)品因沙塵造成短路而極易釀成火災(zāi)。
電子元器件沙塵防塵試驗設(shè)備的應(yīng)用背景:自然界粉塵(沙塵、風(fēng)塵、灰塵等)對產(chǎn)品和材料的破壞,每年造成難以估計的經(jīng)濟損失。所造成的損害主要包括腐蝕、褪色、變形、強度下降、膨脹、發(fā)霉等,特別是電器產(chǎn)品因沙塵造成短路而極易釀成火災(zāi)。符合GBT2423.37-La2、IEC60068-2-68-La2、ISO20653-La2、GB4208-93-12.4、IEC60529-13.4中家用電器、低壓電器、汽車、摩托車零部件外殼防護等級試驗要求。
特點:
1. 適用于進行產(chǎn)品的IP56X防塵等級測試。
2. 外殼由鋼板加工而成,表面噴涂烤漆,美觀耐用。
3. 內(nèi)箱、樣品架等均采用不銹鋼板制造,確保長時間使用不生銹。
4. 門上有透明觀察窗(鋼化玻璃材質(zhì)),箱內(nèi)安裝有LED照明燈,方便觀察內(nèi)部測試情況。
5. 設(shè)備的底部有可更換灰塵的裝置,可以很方便地將使用過的灰塵100更換。
6. 為了確保粉塵不粘在箱壁上和凝結(jié),安裝了一套特殊的裝置,該裝置工作時間可調(diào),并可自動交替進行工作。
電子元器件沙塵防塵試驗設(shè)備的技術(shù)參數(shù):
細(xì)塵 | 75um以下 |
粗塵 | 150um以下 |
氣流速度 | 不大于2m/s |
灰塵濃度 | 2kg/m3 |
石粉用量 | 2~5kgm3 |
吹塵方式 | 自上而下 |
空氣流量計 | 1-20L/M |
金屬網(wǎng)絲直徑 | 50um |
線間標(biāo)稱間距 | 75um或150um以下 |
震擊時間 | 1s~99h(可調(diào)) |
試驗時間定時 | 1s~99h(可調(diào)) |
吹塵控制周期 | 1s~99h(可調(diào)) |
真空時間 | 1s~99h(可調(diào)) |
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