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400-7075-800簡要描述:步入式溫濕度房廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊等領(lǐng)域產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)的溫濕度環(huán)境測試。
步入式溫濕度房廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊等領(lǐng)域產(chǎn)品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)的溫濕度環(huán)境測試。
步入式溫濕度房執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法:試驗A
GJB150.3-1986 高溫試驗
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗
GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗
GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗
GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GJB150.9-1986 濕熱試驗
(每立方米負(fù)載不大于35kg/m3熱容量,濕熱試驗時無有源濕、熱負(fù)載)