快速溫度變化試驗設(shè)備快速溫變試驗箱

簡要描述：快速溫度變化試驗設(shè)備適用于各類電I電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、濕熱試驗等環(huán)境模擬可靠性試驗。

產(chǎn)品型號：LQ-KS-225
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2023-12-13
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詳情介紹

快速溫度變化試驗設(shè)備適用于各類電I電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、濕熱試驗等環(huán)境模擬可靠性試驗。

快速溫度變化試驗箱將高溫和低溫以設(shè)定的時間頻率進(jìn)行切換，讓被檢測樣品能夠在溫度快速變化的情況下運行，檢測樣品在快速溫變后發(fā)生的變化。而且有些產(chǎn)品在模擬的溫度變化的環(huán)境下,一些潛存在產(chǎn)品深處的問題都會慢慢暴露出來，就比如材料問題、制作工藝等。

快速溫度變化試驗設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008低溫試驗方法

GB/T 2423.1-2008高溫試驗方法

GJB150.3A-2009高溫試驗

GJB150.4A-2009低溫試驗

GJN1032-1990環(huán)境應(yīng)力篩選方法

產(chǎn)品&規(guī)范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時
NABMAT-9492 美軍制造篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南	設(shè)備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——