PID控溫快速溫變試驗箱適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、、航天等制品檢測質(zhì)量之用。

PID控溫快速溫變試驗箱：產(chǎn)品在設(shè)計強(qiáng)度極限下，運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程，而不是-種可靠度試驗，所以應(yīng)力篩選是100對產(chǎn)品進(jìn)行的程序。

滿足試驗方法：

GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法GJB 150.3A—2009 高溫試驗GJB 150.4A—2009 低溫試驗GB/T2423.22—2008 試驗Nb 溫度變化試驗產(chǎn)品制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件GB T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GB/T5170.2 基本參數(shù)檢定方法